实现生产线电路板、电子元器件、芯片等的进厂检测。设备使用先进的模块化仪器及硬件，同时采用泛华自主研发的信号路由矩阵、夹具及通用软件测试平台。

电子产品在生产制造时，因设计不合理、原材料或工艺等原因引起产品的质量问题可概括为两类，第一类：产品的性能参数不达标；第二类：潜在的缺陷。老化是借由让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免电子产品在使用早期发生故障。老化测试通常需要对其施加加速环境应力，常用的环境应力中，以温度变化的老化效果最好。本系统即通过控制温度来提供老化环境，同时进行元器件的功能测试及筛选。

系统功能主要包括在室温至180°环境下对电子元器件的动态老化测试，即可任意设置老化温度点、老化时间与循环测试时间间隔，并在各个温度点下对电子元器件进行各项功能、电气指标的自动化测试，进行性能评判、筛选。本系统适用于多种不同类型的元器件测试，包括电阻、电容、电感、稳压器、二极管、变压器等，种类达二百多种，并方便扩展。